晶振主要由石英晶片、银膜层电极、引线、支架和外壳等组成，是用电损耗很小的石英晶体经精密切割磨削并镀上电极焊上引线做成。这种晶体有一个很重要的机电效应特性，切割方向等密切相关。

在电子线路中，晶振的主要失效模式是开路、短路、频率稳定性差等。

造成开路、短路的原因主要为支架脱落、脱锡、外壳封装系统机械损伤等，而造成频率稳定性差的因素很多。

晶振在使用和贮存过程中，随着时间的变化而出现老化现象，通过对成品的解剖和原材料、制造工艺的分析，应用扫描电子显微镜的观察，初步认为失效的晶振频率稳定性差是由使用的原材料不当、石英晶片表层清洁处理不良、表层污染、蒸发的银膜层附着性差等因素造成的。

信息来源：泰艺晶振